本發明屬于地質勘察的技術領域,具體涉及一種利用單一納米微粒的化學成分數據預測隱伏礦床的方法。所述方法包括如下步驟:采集被檢樣品,將被檢樣品制備成測試樣品,采用探針技術分析測試樣品中的單一納米微粒,并對單一納米微粒中的元素進行定性和定量分析,根據分析得到的化學成分數據預測隱伏礦床。通過對測試樣品中的元素進行定性和定量分析,根據所得到化學成分數據預測隱伏礦床,可以實現找礦數據由半定量到定量的質的飛躍,獲得更精確、更豐富的關于隱伏礦體的信息,降低找礦成本。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)