本發明公開了一種基于離子減薄的電子顯微三維重構地質樣品制樣方法,涉及地質行業檢測技術領域,所述方法包括以下步驟;S1、將目標樣品切割成一維方向延伸的棒狀、條狀或線狀;S2、對獲得的一維方向延伸樣品進行清洗和機械研磨,使樣品的一端形成針尖狀;S3、將獲得的針尖狀樣品采用離子減薄進行進一步研磨減薄至電子束可穿透的厚度,進而獲得可在透射電子顯微鏡下進行三維重構數據采集的樣品。本發明能夠實現360°全角度電子顯微三維重構數據采集的地質樣品制備方法,不會因為樣品本身的形狀限制產生楔形數據缺失。
聲明:
“基于離子減薄的電子顯微三維重構地質樣品制樣方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)