本發明涉及一種X熒光光譜法快速分析鋁礬土中化學成分的方法,步驟為:將鋁礬土制備成適宜熒光光譜分析的片狀試樣;對鋁礬土片狀試樣進行激發試驗,確定出適應鋁礬土分析的X熒光光譜儀的測量參數;按照上述設定的測量參數對標準物質片狀試樣進行多次激發試驗,根據鋁礬土中每個元素含量與特征譜線強度,確定元素的測量模式和扣背景位置;再根據鋁礬土的測量條件確定元素含量和特征譜線強度之間的線性關系,繪制出鋁礬土的分析靈敏度曲線;利用上述靈敏度曲線測定待測鋁礬土試樣的含量。本發明僅用數分鐘即可對鋁礬土中的氧化物進行準確測量,從而控制材料的質量,提高了生產中的材料檢驗效率,縮短了分析周期,更加適合現代化企業的生產需求。
聲明:
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