本發明屬于電子封裝設備相關領域,并公開了一種面向片式元件多節點檢測的卷到卷轉移系統,其包括底座,以及安裝在該底座上的料卷輸送裝置、元件拾取裝置、夾持裝置和上視檢測裝置,其中料卷輸送裝置用于卷到卷進給物料,并在進給過程中將片式元件予以揭膜和覆膜處理;該元件拾取裝置用于將片式元件執行拾取后轉移到夾持裝置予以檢測,然后將其返回放置至料帶料槽內,并分別采用下視觀測相機對其進行下視位姿拍攝;該上視檢測裝置配合對片式元件執行上視位姿拍攝。本發明還公開了位置補償各環節的優化處理算法和綜合評價算法。通過本發明,能夠確保在連續檢測過程中實現片式元件的拾取和返回放置操作,同時具備高效率和高精度等優點。
聲明:
“一種面向片式元件多節點檢測的卷到卷轉移系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)