本發明公開了一種芯片測試裝置及其測試方法,屬于芯片測試領域。一種芯片測試裝置,包括檢測箱和設備箱,所述檢測箱固定連接在設備箱上,所述設備箱內轉動連接有轉動桿,所述設備箱上固定連接有氣缸和活塞缸,所述推桿上固定連接有摩擦桿,所述氣缸上固定連接有摩擦板,所述摩擦桿滑動連接在摩擦板上,所述轉動桿通過往復機構與推桿相連接,所述氣缸上固定連接有出氣管,所述活塞缸上滑動連接有活塞桿;本發明使用簡單,操作方便,通過把不同檢測環境放置在一起進行檢測,減少了檢測時間,提高了檢測效率,同時增加了檢測的多樣性,提高了對不同檢測數據下芯片數據的收集,增加了使用安全保障。
聲明:
“一種芯片測試裝置及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)