本發明公開了一種利用隨鉆錄井Q參數進行水層識別的解釋評價方法,包括如下步驟:a、收集整理目的層錄井工程參數和地質參數;b、利用錄井工程參數和地質參數計算錄井Q參數響應值;c、根據錄井Q參數響應值作圖;d、利用判別圖版隨鉆識別水層發育情況。本發明發揮錄井烴值參數隨鉆解釋及時、高效、真實、快速的優勢,綜合運用錄井工程及地質參數,隨鉆識別水層發育情況。
聲明:
“利用隨鉆錄井Q參數進行水層識別的解釋評價方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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