本發明屬于礦場地球物理測井解釋成果在生產中的應用技術,具體的說是通過儲層地質參數定量表征技術,簡潔、方便評價儲層品質,為勘探開發方案的制定提供技術支撐。一種儲層品質評價方法,方法如下:獲得儲層參數;儲層參數包括孔隙度、含油飽和度So、膠結指數m、飽和度指數n、泥質含量SH、束縛水飽和度Swi;將上述儲層參數代入至儲層品質因子解釋公式得到儲層品質因子P;若P≥20,則該對應儲層為Ⅰ類好儲層;若5≤P<20,則該對應儲層為Ⅱ類中等儲層;若P<5,則該對應儲層為Ⅲ類差儲層。本發明提供了一種計算儲層品質因子的計算方法,并通過該儲層品質因子對儲層品質進行分類評價,克服了單一地質參數評價儲層不全面的問題。
聲明:
“儲層品質評價方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)