有色金屬分析檢測設備

高頻紅外碳硫分析儀 2222     

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QR9000型高頻紅外碳硫分析儀主要用在：鋰電池。負極材料、礦石、新能源材料等。

全譜直讀光譜儀 2927     

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QR-9光譜儀適用于金屬制造、加工及金屬冶煉的質(zhì)量監控、材料牌號識別、材料研發(fā);是客戶(hù)的常備儀器之一。

高頻紅外碳硫分析儀 2197     

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QIR2002型高頻紅外碳硫分析儀主要用在：新能源、冶金、機械、礦山、商檢、核工業(yè)、煤炭、汽車(chē)、船舶、航空、食品、航天、建材、高校、地質(zhì)、石化等；能快速測定鋼鐵、新能源材料、硅鈣合金、稀土金屬、鐵合金、磁性材料、有色金屬、碳化物、陶瓷、無(wú)機物、石墨、耐火材料、鐵礦、催化劑、爐渣、水泥、煤、焦炭、巖石、石灰、石油、化工及其它材料中碳、硫兩元素的質(zhì)量分數。

高頻紅外碳硫分析儀 2599     

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主要用途： 適用于鋼鐵、有色金屬、水泥、礦石、玻璃、陶瓷及其它金屬、非金屬材料中碳硫兩元素質(zhì)量分析的測定。本儀器采用高頻感應加熱爐燃燒樣品，紅外線(xiàn)吸收法測試樣品中碳硫兩元素質(zhì)量分析。

高頻紅外碳硫分析儀 4225     

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主要用途： 適用于鋼鐵、有色金屬、水泥、礦石、玻璃、陶瓷及其它金屬、非金屬材料中碳硫兩元素質(zhì)量分析的測定。本儀器采用高頻感應加熱爐燃燒樣品，紅外線(xiàn)吸收法測試樣品中碳硫兩元素質(zhì)量分析。

手持光譜分析儀 3817     

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LIBS手持光譜分析儀器彌補了傳統元素分析方法的不足，尤其在微小區域材料分析、鍍層/薄膜分析、缺陷檢測、珠寶鑒定、法醫證據鑒定、粉末材料分析、合金分析等應用領(lǐng)域優(yōu)勢明顯，同時(shí)，LIBS還可以廣泛適用于地質(zhì)、煤炭、冶金、制藥、環(huán)境、科研等不同領(lǐng)域的應用。 除了傳統的實(shí)驗室的應用，LIBS還是為數不多的可以做成手持便攜裝置的元素分析技術(shù)，更是可以做在線(xiàn)分析的元素分析技術(shù)。這將使分析技術(shù)從實(shí)驗室領(lǐng)域拓展到戶(hù)外、現場(chǎng)。

手持合金分析光譜儀 4139     

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GF-5600 手持合金分析光譜儀用于不銹鋼、合金鋼、工具鋼牌號鑒定及成份、含量檢測，包含常用不銹鋼牌號201 203 301 304 316 321等幾百種。用于銅合號及成份檢測，包含黃銅、青銅、紫銅、純銅等等。用于各種混雜合金成份及檢測，包含鈦合金、錫合金、鉛合金、鎢合金、鋅合金、鋁合金、鎳合金等等。

直讀光譜儀 2125     

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一、儀器技術(shù)特點(diǎn) 1、儀器光學(xué)系統采用帕型-龍格裝置，高真空，分辨率高、靈敏度高等特點(diǎn)；由于機刻光柵可以產(chǎn)生較好的光譜，所以選線(xiàn)更具靈活性，從而避免光譜干擾； 2、儀器結構設計合理，電子系統高度集成化電路，故障率低； 3、分析速度快、重復性好、穩定性好； 4、可用于多種基體分析： Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等； 5、采用純中文Windows系統下的操作軟件，操作簡(jiǎn)單易懂； 6、計算機軟件建有數據庫系統，方便了測量數據的查詢(xún)與打印，也可通過(guò)網(wǎng)絡(luò )遠程傳輸數據，方便快捷；

全譜直讀光譜儀 3615     

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NJ-QP880型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術(shù)，應用了日本濱松公司的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個(gè)數，與好的光譜儀技術(shù)同步，采用真空光室設計及全數字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數據精準，長(cháng)期穩定性好等優(yōu)點(diǎn)。

金相分析檢測專(zhuān)用中低速精密切割機 6418     

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中低速精密切割機，設計緊湊，依靠重力提供恒定的進(jìn)給率自動(dòng)切割，樣品產(chǎn)生的變形小，切口損失率低。適用于各種金屬材料，線(xiàn)路板和半導體等的精密切割。設備配有多種夾具，可切割不規則形狀的工件，是企業(yè)和科研院校理想的精密切割設備。

無(wú)級變速金相分析研磨拋光機 6347     

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雙盤(pán)雙控手動(dòng)磨拋機是集金相試樣預磨、研磨和拋光等多功能于一體，動(dòng)力 強，噪音低，堅固耐用，操作簡(jiǎn)單，每個(gè)工作盤(pán)可獨立控制啟停和調整速度，兩人可以同 時(shí)獨立操作，是企業(yè)和科研院校理想的研磨拋光機。

高溫摩擦磨損試驗機 6245     

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摩擦磨損試驗的目的是為了對摩擦磨損現象及其本質(zhì)進(jìn)行研究，正確地評價(jià)各種 因素對摩擦磨損性能的影響，從而確定符合使用要求的摩擦副元件的最優(yōu)參數。高溫 摩擦磨損試驗機可以在高溫環(huán)境下在線(xiàn)式研究摩擦、磨損和潤滑機理以及影響摩擦、 磨損的諸因素，對極端工況下新的耐磨、減磨及摩擦材料和潤滑劑進(jìn)行評定。

高溫維氏硬度計 3617     

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由于材料（如金屬材料、陶瓷 、瑪瑙等）最終的工作環(huán)境不同，隨著(zhù)環(huán)境溫度的變化，材料的硬度也會(huì )相應發(fā)生改變。為了解決同一材料在不同溫度環(huán)境下的硬度測試，我們公司在常規硬度計基礎上，增加了高溫系統，來(lái)模擬不同溫度的工作環(huán)境，得到材料的硬度測試數據，使實(shí)驗數據更具參考價(jià)值。

高低溫霍普金森桿 3403     

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霍普金森桿是一種研究一維應力狀態(tài)下材料動(dòng)態(tài)力學(xué)性能的有效實(shí)驗裝置。該裝置通過(guò)應力波對試樣進(jìn)行沖擊，可以計算出應力、應變、應變率、應變能等，通過(guò)該設備可以研究金屬材料、復合材料、混凝土及巖石類(lèi)各向異性材料和各向同性材料的動(dòng)態(tài)力學(xué)性能參數（動(dòng)態(tài)壓縮強度、巴西圓盤(pán)動(dòng)態(tài)拉伸強度等）。也可對試樣進(jìn)行在不同外圍約束力下進(jìn)行動(dòng)態(tài)性能測試。

D300 經(jīng)濟型高精度臺階儀 3399     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測量，與材料特性無(wú)關(guān)?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進(jìn)行測量。通過(guò)測量粗糙度和應力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 3374     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀(guān)大方、高穩定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強大、操作簡(jiǎn)單、用戶(hù)界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性?xún)r(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統 3500     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經(jīng)過(guò)30多年的發(fā)展后，從形貌測試及其它常規功能來(lái)看已經(jīng)非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來(lái)越無(wú)法滿(mǎn)足科研人員在納米尺度下對于樣品進(jìn)行多性質(zhì)原位測試分析的需求，尤其在化學(xué)、光學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等領(lǐng)域。 在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結合波長(cháng)可調的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類(lèi)拉曼光譜儀

VITA　反應離子刻蝕機（垂直腔室） 2027     

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反應離子刻蝕系統，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 2341     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結合為一體的生物傳感檢測儀?？梢酝瑫r(shí)得到細胞原位明場(chǎng)成像、SPR成像、及SPR動(dòng)力學(xué)曲線(xiàn)定量親和常數、結合解離常數，它為免標記研究分子相互作用的領(lǐng)域開(kāi)辟一個(gè)嶄新的前沿。專(zhuān)門(mén)針對細胞膜蛋白和相關(guān)分子免標記檢測而設計的SPRm200， 使您在不需要從細胞中提取和分離膜蛋白的前提下實(shí)時(shí)觀(guān)察細胞結構并同時(shí)測量藥物和靶點(diǎn)在細胞上的結合過(guò)程。還可進(jìn)行對藥物和在天然狀態(tài)下的膜蛋白之間相互作用的測量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 2373     

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NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試中表現出色，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測試數據同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測儀 2092     

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KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對半導體及光電子材料進(jìn)行先進(jìn)的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料進(jìn)行檢測，成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學(xué)表面分析（OSA）專(zhuān)用技術(shù)，可同時(shí)測量散射強度、形狀變化、表面反射率和相位轉移，為特征缺陷（DOI）進(jìn)行自動(dòng)偵測與分類(lèi)。OSA檢測技術(shù)結合散射測量、橢圓偏光、反射測量與光學(xué)形狀分析等基本原理，以非破環(huán)性方式對Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測試儀 1890     

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Filmetrics的薄膜電阻測量設備開(kāi)發(fā)源自于有著(zhù)超過(guò)30年經(jīng)驗的KLA的薄膜電阻計量技術(shù)，并由20年臺式測量設備開(kāi)發(fā)經(jīng)驗的Filmetrics團隊完善了桌面式方塊電阻測量產(chǎn)品。KLA薄膜電阻測量技術(shù)包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測量?jì)x器可測量沉積在多種基材上的導電片和薄膜，跨越10個(gè)數量級范圍電阻率，包括：半導體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽(yáng)能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 1962     

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Desk V樣品制備系統配制用于蒸發(fā)和濺射，是一種高生產(chǎn)率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復的結果。 Desk V鍍膜系統提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機選項，專(zhuān)為高分辨率顯微鏡樣品設計，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導電鍍膜，其熱蒸發(fā)選項可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線(xiàn))。

D300 經(jīng)濟型高精度臺階儀 1980     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測量，與材料特性無(wú)關(guān)?？烧{節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進(jìn)行測量。通過(guò)測量粗糙度和應力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 1941     

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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀(guān)大方、高穩定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強大、操作簡(jiǎn)單、用戶(hù)界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性?xún)r(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統 2436     

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在具備常規原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結合波長(cháng)可調的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類(lèi)拉曼光譜儀進(jìn)行聯(lián)用，組成原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統，以滿(mǎn)足科研人員在納米尺度下的測試需求。

P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀 1933     

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KLA是全球半導體在線(xiàn)檢測設備市場(chǎng)較大的供應商，在半導體、數據存儲、 MEMS 、太陽(yáng)能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著(zhù)不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢。 P-7建立在市場(chǎng)領(lǐng)先的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性?xún)r(jià)比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無(wú)需圖像拼接。從可靠性表現來(lái)看， P-7具有較好的測量重復性。UltraLite?傳感器具有動(dòng)態(tài)力控制，

實(shí)驗室合金顎式破碎機 5110     

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LHMY-HJ125x150顎式合金破碎機 一、概述： 顎式合金破碎機主要用于化驗室，對原材料的中碎和細碎,其破碎方式為曲動(dòng)擠壓式。被破碎物料的大塊度應小于其選用機器型號料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗壓強度為中等硬度。配用合金材質(zhì)鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定貨。

Agilent 8890 氣相色譜儀 3313     

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8890GC是安捷倫新一代旗艦級GC，擴展性強，性能滿(mǎn)足更廣泛的需要。 ——新一代強大的電子結構，帶雙核處理器； ——更加豐富的智能互聯(lián)功能； ——配備全套進(jìn)樣口、檢測器和附件，CFT, Deans Switch, 反吹，雙塔進(jìn)樣； ——支持6個(gè)氣體進(jìn)樣閥和8個(gè)加熱區域； ——可同時(shí)安裝4個(gè)檢測器(15種可備選擇)； ——第6代EPC； ——支持眾多配件和易耗品； ——7英寸彩色觸摸屏

GC5890N高效氣相色譜儀 2713     

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儀器簡(jiǎn)介：可選配多種檢測器及填充柱、分流/不分流毛細管柱進(jìn)樣系統;全兼容安捷倫6890N氣相色譜儀檢測器及相關(guān)檢測器控制板、色譜工作站和自動(dòng)進(jìn)樣器。性?xún)r(jià)比卓越，性能優(yōu)良，運行穩定可靠。 應用領(lǐng)域：石油、化工、食品、制藥、環(huán)保、疾控、安監、水務(wù)、電力、冶金、科研院所、質(zhì)檢部門(mén)。 配套產(chǎn)品：頂空進(jìn)樣器、氣體發(fā)生器、氣體純化器、熱解析儀、裂解器等。