上海有色金屬化學分析設備

手持光譜儀 XRF 合金分析儀 106     

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布魯克 S1 TITAN 500S 是德國布魯克公司推出的高性能手持式 X 射線熒光光譜儀（XRF），專為合金分析、貴金屬檢測、廢料分揀、質量控制及環境監測等領域設計。該儀器結合了先進的 XRF 技術與人體工學設計，具備高精度、快速分析、便攜耐用等特點，是現場材料分析的理想工具。

高性能全譜直讀光譜儀 121     

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聚光科技全譜直讀光譜儀M5000plus是一款高性能的元素分析儀器，專為金屬材料成分檢測設計，集全譜覆蓋、快速分析、高精度于一體，廣泛應用于冶金、鑄造、機械制造及環境監測等領域，是金屬質量控制與材料鑒別的核心工具。

晶間腐蝕儀 238     

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晶間腐蝕是金屬局部腐蝕的一種，通常出現于不銹鋼、鋁合金、黃銅和鎳基合金等材料中。晶間腐蝕是沿著金屬晶粒間的分界面向內部擴展的腐蝕。晶間腐蝕的原因是晶粒表面和內部間化學成分的差異以及晶界雜質或內應力的存在。

雙光束反射分光光度計 163     

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上海韻鼎國際貿易有限公司引進的MiniScan? EZ雙光束反射分光光度計，是一款在色彩測量領域表現出色的專業設備。

智能化原子熒光光譜儀 160     

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上海美析儀器有限公司AFS-680智能化原子熒光光譜儀是一款專為痕量元素分析設計的高性能儀器，采用惰性氣體氬氣作為載氣，通過氫化物發生技術將樣品中的砷、汞、硒等元素轉化為氣態氫化物，在特制原子化器中受熱分解為基態原子蒸氣。原子蒸氣吸收特征光源輻射后躍遷至高能級，再以輻射方式釋放熒光信號，其強度與元素濃度成正比，從而實現定量分析。該儀器采用非色散光學系統與雙光束單檢測器設計，配合多燈位編碼光源，可同時測定雙元素，顯著提升檢測效率與準確性。

氨氮化學需氧量檢測儀 176     

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天爾分析儀器(山東)有限公司推出的TE-5600多參數水質綜合測定儀，是一款集氨氮與化學需氧量（COD）檢測于一體的高性能水質分析設備，廣泛應用于環保執法、工業廢水處理、科研監測及環境監測等領域。其核心工作原理基于比色法與分光光度法：氨氮檢測采用納氏試劑法或水楊酸法，通過氨氮與顯色試劑反應生成有色絡合物，在420nm或660nm波長下測量吸光度，結合內置標準曲線計算濃度；COD檢測則遵循重鉻酸鉀法或快速消解分光光度法，通過試劑與水樣中有機物的氧化反應生成顯色產物，在340-900nm波長范圍內分析吸光度變化，精準計算COD值。

觸摸屏高低溫濕熱試驗箱 447     

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觸摸屏高低溫濕熱試驗箱可以模擬各種溫濕度環境變化后的參數性能(如高溫、低溫、恒溫恒濕、干燥...)，用以檢驗產品材質經過溫度、濕度變化后是否有故障、質變、無法正常工作等情況。

手持式激光(LIBS)鋰礦光譜分析儀 378     

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美國 SA(SciAps)Z 系列手持式 LIBS 分析儀的報價以及相關的技術性數據，同時簡 要地列出 Z-903 GEO 分析儀在現時市場競爭上的幾個重要優勢。

汽車鑄件X射線實時成像系統 387     

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X射線實時成像檢測系統可用于對各類金屬鑄件、汽車零部件、焊接件、塑料制品、橡膠制品、耐火材料、樹脂材料、復合材料和陶瓷體等各種產品進行在線式無損檢測。該系統適用于軍工、航空、航天、裝備制造、電子、汽車、高鐵等行業。

直讀光譜儀 383     

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S3直讀光譜儀是意大利GNR公司推出的一款高性能全譜直讀光譜儀，采用多項領先技術，如串行讀出系統設計和TRS火花激發，確保了優異的分析性能和極高的性價比。該儀器覆蓋了從130nm到800nm的全譜范圍，配備高分辨率CMOS檢測器和3600條/mm的高精度光柵，能夠滿足絕大多數金屬檢測需求，包括鑄鐵、鋁合金、不銹鋼、鋅合金等多種材料。其檢測精度高，尤其在紫外區元素（如P、S、B）的測量上表現出色。此外，S3還具備智能單點校準和波長實時校準功能，可有效應對漂移，確保測量結果的穩定性和準確性。

GNR手持式射線熒光光譜儀 286     

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GNR ProSpector手持式X射線熒光光譜儀采用了最先進的X射線光管控制技術及最領先的探測器數據讀出系統，每秒可接受的X射線光子數突破了X射線熒光光譜儀可接受的上限，因此儀器可獲得非常精準的檢測結果。同時，由于可接受到的X射線光強度更高，一些難以檢測的輕元素可以得到更低的檢出限以及更準確的結果。

碳/硫分析儀 647     

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除了高頻感應爐類型的EMIA-Expert/Pro系列碳硫儀外，管式電阻加熱爐類型的碳硫分析儀EMIA-Step已新增到我們的碳/硫分析儀陣容中。除了高精度和高靈敏度的分析外，其可變加熱溫度功能通過溫度和條件設定，實現了不同形態碳硫的獨立定量分析和總量分析。

氫分析儀 408     

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EMGA-921型氫分析儀是氫分析的旗艦機型和人性化儀器的典范。這是一款高精度、高重復性的氫元素分析儀，適用于鋼鐵、新材料、催化劑等領域的尖端材料研發和質量控制。這是經過優化以適應用戶的要求全新產品。

氧/氮/氫分析儀 295     

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金屬和固體材料（包括鋼鐵、各種有色金屬、陶瓷和電子材料）的特性和性能取決于氧、氮和氫的含量。在材料的研究和性能分析中，元素含量檢測的高精度和分析用的樣品量少的要求變得越來越重要。EMGA系列氧/氮/氫分析儀顯著減少了分析時間和成本，同時提高了分析精度和設備關鍵性能。EMGA系列還追求可用性，強力支持提高材料研發和質量控制的效率。

八路alpha能譜儀 360     

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ORTEC α譜儀系列包括Alpha AriaTM,單NIM寬; Alpha DuoTM緊湊的雙路臺式系統;模塊式2, 4, 6或8通道Alpha EnsembleTM。Alpha Ensemble可以直接放在桌面上也可以裝配在19英寸的支架中。Alpha Duo模塊的每個通道都裝有真空計;可調探測器偏壓(正或負);前置放大器;幅度可調的測試脈沖發生器;漏電流監測器。每個通道都有各自的數字穩譜和增益轉換設置。各探測器可獨立工作，探測范圍0～10MeV可調。脈沖發生器幅度調節范圍也為0～10MeV。探測器偏壓0～±100V可調。硬件控制，數據獲取，探測器偏壓，漏電流全都通過軟件顯示和控制。

激光熱導儀 355     

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材料的熱物理性質以及最終產品的導熱優化在各種工業應用領域變得越來越重要。經過幾十年的發展，在測量各種固體、粉末和液體熱導率和熱擴散系數中閃射法已經成為最常用的測量方法。Linseis LFA 1000激光導熱系數測試儀采用模塊化設計的最精密的熱擴散系數，熱導率和比熱的測量儀器?？赏瑫r測量6個樣品?？梢赃x用多種不同的樣品架，適用于固體，液體，熔體和爐渣。緊湊的設計使得硬件和電子元件分離，安裝一個外罩后可以適應于核應用。采用自主設計的樣品池，實現了液體樣品導熱系數/熱擴散系數的測量。

石墨中水分含量測試設備 340     

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石墨中水分含量測試設備：性能指標：分析天平：檢定精度：0.001g;測量范圍：0-120g；電熱恒溫鼓風干燥箱：溫度波動 ± 1 ℃;控溫范圍 ：50-300℃；

石墨中體積密度含量測試設備 365     

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石墨中體積密度含量測試設備：分別采用天平和外徑千分尺測量烘干后石墨樣品的質量和體積;根據體積密度公式計算得出石墨的體積密度。

同步熱分析-質譜聯用儀 337     

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STA449F3可同時進行熱重分析(TG)和差示掃描量熱分析(DSC)，擁有最高的靈敏度與最佳的重復性，用于反應/轉變溫度與熱焓，以及比熱的測量。STA449F3與氣體分析系統QMS 403 Aёolos ?質譜儀聯用，使用熱質聯用技術，在同一次測量中除檢測樣品的重量變化與熱效應之外，還可同時對逸出氣體進行鑒別和定量分析。

穆斯堡爾譜儀 356     

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穆斯堡爾譜儀利用原子核的無反沖共振吸收效應(穆斯堡爾效應)測量穆斯堡爾核與超精細場的相互作用，可以獲得其價態、自旋態、配位環境及物相等信息。穆斯堡爾譜具有分離率高、抗干擾能力強等特點，在物理學、化學、材料科學、物理冶金學、生物學和醫學、地質學、礦物學和考古學等領域均有廣泛的應用。

紅外光譜儀 424     

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紅外光譜對樣品的適用性相當廣泛，固態、液態或氣態樣品都能應用，無機、有機、高分子化合物都可檢測。此外，紅外光譜還具有測試迅速，操作方便，重復性好，靈敏度高，試樣用量少，儀器結構簡單等特點，因此，它已成為現代結構化學和分析化學最常用和不可缺少的工具。Frontier是PE公司一款高端紅外光譜儀，使用該儀器不僅可以獲得中紅外光譜，還可以獲得近紅外光譜，輔以ART附件，可以實現固體樣品的快速測定，免除了先前通過溴化鉀等壓片的繁瑣步驟。另外，通過我們自己設計的加熱爐和樣品池，實現了高達600℃溫度液態樣品的檢測。

拉曼光譜儀 409     

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ENTERRA使用非鎖頻激光器，結合“Sure-Cal”實時波長校準專利技術，保證每一次測量開始前讀出準確的激光波長。配備532nm、633nm、785nm三種激光波長的激光器，能量選擇范圍廣，掩蓋0.5-100mW。配備加熱臺用于高溫拉曼測試，最高溫度可達到900℃。

X射線衍射儀 417     

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X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫(~1200℃)條件下的X射線衍射，能夠提供粉末、塊狀、液態的多晶樣品的常規物相分析和半定量分析，晶胞參數的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結晶度測定。還可對材料的殘余應力、織構及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成，具有優異的分辨率及信噪比;探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上，普通樣品可在7分鐘左右測試完成;具有優異的能量分辨率，無需單色器，即可有效去除含鐵樣品的熒光。

飛行時間——二次離子質譜儀 386     

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飛行時間——二次離子質譜儀(TOF-SIMS)采用質譜技術分析材料表面原子層以確定表面元素組成和分子結構。其工作原理是樣品表面被高能聚焦的一次離子轟擊時，一次離子注入被分析樣品，把動能傳遞給固體原子，通過層疊碰撞，引起中性粒子和帶正負電荷的二次離子發生濺射，再通過測量不同二次離子的飛行時間測量它們的質量/荷質比，對被轟擊的樣品的表面和內部元素分布特征進行分析。二次離子質譜可以分析包括氫在內的全部元素，并能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子構成，靈敏度好、質量分辨率高、可測量的分子量范圍大

電子探針顯微分析儀 343     

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電子探針(EPMA)是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征性X射線，對特征性X射線進行分光和強度測定，得到微小區域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。EPMA 采用波長色散型X 射線分光器(WDS)，與能量色散型X 射線分光器(EDS)相比，具有高分辨率的特點。本實驗室裝備有日本島津公司生產的EPMA-1720電子探針顯微分析儀，配備4道波譜儀，同時配備AZtec X-Max 80牛津能譜儀，可對試樣進行微小區域成分分析，可對5B～92U范圍的元素進行定性和定量分析。

X射線熒光光譜儀 332     

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日本理學ZSX Primus下照射熒光光譜儀，可對從O到U之間的元素進行定量和半定量元素測量，具有超尖銳超薄窗X射線管(75um);流氣式和高能閃爍式探測器;堅固耐用，精確和快速的獨立轉動測角儀。

直讀光譜儀 298     

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SPECTROMAXx的直讀光譜儀的一個顯著特點是用于測定金屬行業要分析的化學元素，包括：碳 ( C )，磷 ( P )，硫 ( S ),特別是能實現氮 ( N )元素的分析。配有完備的工作曲線校正模塊，具備同時進行十種不同基體分析的能力，如：Fe，AI，Cu，Ni，Co，Ti，Mg，Zn，Pb，Sn等。覆蓋了全元素分析范圍，可根據具體需要分析相應的元素。SPECTROMAXx應用范圍非常廣泛，適合壓鑄、熔儔，鋼鐵或有色金屬行業的爐前金屬分析要求，進、出廠材料檢驗經及汽車、機械制造等行業的金屬材料分析。

高分辨電感耦合等離子體質譜儀（HR-ICP-MS） 321     

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Nu AttoM 是高分辨率等離子體質譜儀，分辨率最大到10000以上，且連續可調，從而保持最大的靈敏度，很好的分離干擾因素。Nu AttoM 采用了快速掃描技術，克服了常規高分辨率ICP-MS掃描速度慢的缺點，非常適合和激光燒蝕系統(LA)連接使用進行原位同位素研究，可提高同位素比值的精度。真空系統穩定可靠，背景超低。

全譜電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES） 415     

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Spectra Arcos不同于傳統的ICP光譜儀，采用帕邢-龍格CCD光學系統，可獲得8.5pm的分辨率;采用專利的遠紫外區UV-Plus光學系統，光室無須吹掃或真空，開機即可使用;采用帶陶瓷功率管的新型自激式固態發生器和電源，高光通量的真空紫外光室波長達130nm，數據讀出系統的動態范圍達8個數量級，瞬間測量頻率達10Hz;專利的智能邏輯校正(ICAL)系統可持續監控儀器的工作狀況并自動校準，確保儀器在最佳狀態下運行;可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。

掃描質子微探針（SPM） 334     

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利用SPM系統，可綜合采用PIXE、PIGE、ERD、RBS等離子束分析方法，實現多種元素成份分析;可測定微區元素分布?？梢杂糜诓牧?、生物醫學、環境、地質樣品的多種微量化學元素成份和微區結構的無損分析。