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JKGW-1500型高溫熱臺用于制陶、冶金、地質、高溫聚合物等樣品觀察和研究。高溫熱臺的加熱單元由纏繞著鉑金絲的陶質杯組成，陶質杯形成了樣品室并有一個為透射光應用的中心孔?？刂茻犭娕急徽辰釉诳椎膬炔?，測點與杯子的上表面齊平。一個7mm的藍寶石樣品圓片放在杯子里并與熱電偶接觸，保證樣品的溫度測量準確。 藍寶石具有卓越的導熱性，也是理想的用于高溫下載物片。在熱輻射防護蓋的保護下，樣品通過底部和側面均勻加熱。
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SMDR-1600型超高溫導熱儀|導熱系數測試儀主要測試含碳耐火材料，石墨氈，碳氈，石墨等靜壓碳棒等低導熱系數材料的導熱系數。該儀器基于熱流計法的原理，兼配GB/T10295等相關國標要求，測試溫度高達1600℃，并作出了相應的改進，由計算機自動完成測試工作，并對各狀態點進行數字化顯示。亦以可人工完成測試，滿足了材料檢測研究部門對材料導熱系數的高精度測試要求。應于金屬材料銅，不銹鋼材料等導電材料，石墨棒等非金屬導電材料的導熱系數，傳熱性能的研究。是檢測研究部門，高等院校及石墨生產廠家的重要檢測設備。
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BKTEM-Dx熱電性能分析系統是一款全新的自動化熱電賽貝克系數測試儀，該儀器實現了一體化設計，無需手動，電腦軟件上可以直接抽真空，設置溫度，只要將樣品裝上之后，實現一鍵式的測量，電阻率及各個表格能夠直觀出現，不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。
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ACDC-T3型管道防腐層陰極剝離性能試驗裝置是我們根據新對涂層耐陰極剝離的實驗要求規范研制的一款設備，用于測試有機涂裝層，因浸泡于電解液中涂層及金屬體系防護性能失效的試驗設備，有機涂層軒劣化和涂層下金屬腐蝕導致與金屬結合力減弱而從金屬表面剝離。為了確保長距離油氣輸送管道的使用壽命及安全,對管道防腐層陰極剝離性能進行了研究,總結了國內外管道防腐層(主要是環氧粉末和聚乙烯涂層)陰極剝離性能的試驗方法(粘接電解槽方法),及其在試驗裝置, 試驗過程以及試驗結果處理等方面的主要特點。
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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備，測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數，同時計算獲得反應材料介電性能的復介電常數和損耗參數。
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HLDT-400型高低溫介電溫譜測試儀適用于電介質材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測試。系統軟件將高低溫測試箱、高低溫測試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設備無縫連接，測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數，通過計算獲得復介電常數、電模量等參數，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測量，同時輸出，測量效率高，數據圖標豐富多樣。
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石墨電極鈉膨脹的原因主要是由于鈉離子在石墨電極上的吸附和擴散作用。在高溫高壓下，鈉離子會通過電解質溶液滲透到石墨電極的表面，并吸附在石墨電極的表面層上。這種吸附作用會導致石墨電極的體積膨脹，從而引起鈉膨脹的現象。此外，鈉離子在石墨電極上的擴散作用也會導致石墨電極的體積變化。
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TPA-6M型3D多面熱物性分析儀是一款基于熱像儀非接觸式測溫和三維數據動態反演技術的熱材料分析儀器，適用于電池等復雜結構樣品(多層、非均質、各向異性)的導熱系數評估和熱擴散系數評估，能夠為新能源、新材料及電子器件等行業的熱管理和熱設計提供準確可靠的基礎熱物性數據。
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WLDR-1000N型高低溫激光導熱測試儀是中科院物理所研發的一款采用一束激光照射樣品，用紅外檢測器測量樣品背面溫度的升高，是一種快速的非接觸式測量熱導率的儀器。來計算樣品的熱擴散系數。具有快速、方便的特點。其測量熱擴散系數為0.001...10cm2/sec, 并可測量樣品的比熱，進一步計算導熱系數。激光導熱儀適用于絕大多數材料導熱性能的測試，絕熱材料除外。激光導熱儀尤其適用于高導熱材料和高溫下的導熱性能的測試，廣泛應用于材料、汽車、航天、電子、化工、能源等領域，是目前生產單位和高等院校的重要科研設備。
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TSP-100型熱常數分析儀是一款可靠性好、精確高、性價比很高的儀器，滿足國際標準ISO/FDIS22007-2015。其導熱系數范圍是：0.001到1800W/m·K，可以測試幾乎所有的日常、工業和科研中的各種塊狀材料樣品，包括由石墨烯構成的多層材料熱解石墨片PGS（PyromicGraphiteSheet）。通過選配薄膜測試模塊、平板測試模塊、單面測試模塊、各向異性測試模塊，也可以用于薄膜類、平板類、單面類和各向異性類樣品的熱常數測試。
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RDFT-1200型滾動表面損傷摩擦試驗機該設備可實現各種材質軸承球與跑道、球與保持架之間的摩擦學性能、表面損傷和使役行為的測試評估，其主要服務于我國航空航天發動機軸承、海工裝備軸承、汽車軸承、醫療器械軸承、高速列車軸承、盾構機軸承、高檔數控機床軸承與機器人軸承、風電軸承等相關領域。將軸承使役行為評價與材料本征特性、服役工況和使用壽命聯系在-起，科學測試和評價滾動軸承材料在近似運動狀態和服役工況下的擦磨損行為和性能演變規律，實現對軸承組件服役性能的精確掌握，進而為軸承材料設計和加工提供指導和建議.
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GWGY-1000W型高溫高壓介電常數測試儀是一款區別目前市場上高溫介電測試儀，也是研究材料介電性能的新領域，采用全新技術，打破了之前的只能在變溫下的頻率下測試，該設備能夠在對樣品進行高溫測試的同時，給樣品加高壓，最高可達5000V直流高壓，更加直觀的看到樣品在外加高壓的條件下，內部相關的性質變化，很多關于薄膜和壓電陶瓷樣品，是在外加高壓條件下，性能會出現比較大的變化，無疑給新的科研提供新的研究方向，對于研究新產品及半導體材料有著重要作用。也是目前高校研究和生產的重要儀器。
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JXLR-600型高低溫金相顯微鏡不僅能觀察動態圖像，還能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。具有附件多，使用性能廣泛，能做明場、暗視場和偏光觀察等有點。物鏡、目鏡和觀察筒都進行了有效的防霉處理，能確保獲得持續清晰的圖像，并延長顯微鏡的使用壽命。JXLR-600型高低溫金相顯微鏡是研究新材料在極端條件下的重要科研設備。
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DZXLR-300型高低溫倒置顯微鏡（溫度：-190℃到300℃）集合了優良的無限遠顯微光學系統與現代高品質顯微觀察方法，可以輕松實現明視場、相位相襯等觀察，清晰明亮的顯微圖像，簡單穩定的操作。專為細胞組織的培養觀察而設計，高對比度，高分辨率，凸顯細胞輪廓和內部結構 ；并可實現明場、熒光、相襯觀察等，滿足實驗室日常工作及基礎研究的需求?？梢詽M足科研和生產在高低溫，變溫環境下的測試，是目前研究科研的重要儀器。
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AFM-120型變溫原子力顯微鏡冷熱臺是一款高性能、高性價比的科學研究級設備，專為原子力顯微鏡設計，支持多種工作模式和功能模塊擴展，滿足基礎科研需求。其開放式結構設計支持定制化功能選擇，配備XYZ三軸獨立閉環壓電陶瓷掃描器，實現高精度定位和高分辨掃描測量，納米表征和測量精度優于99.5%。該冷熱臺采用熱電制冷，溫度范圍為-10℃至120℃，顯示精度為0.1℃，控溫精度為±0.1℃，樣品區域為34×34mm，最大加熱和冷卻速率均為20℃/min。設備尺寸為130×80×8mm，凈重0.2kg，無觀察窗口，無真空度要求，需配備水冷組件。
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CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺（GM制冷機） 產品簡介CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺此型號冷臺采用縣空隔振設計，樣品臺震動小于100nm。冷臺體積小巧，方便與顯微鏡、拉曼光譜儀等設備集成。附件豐富，包括低溫壓電位移臺、光前組件、電學接頭、不同材質窗片等可供搭配?？梢詮V泛用于半導體工業、MEMS、超導、電子學、貼電子學、物理學和材料學等領域。
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BLRT-600型背面探針型冷熱臺是一款適用于背面電極樣品的高精度溫控設備，具備耐高低溫的重復使用探針。其設計特點包括遠距離上部觀察窗口，無需氣體吹掃防結露，以及外部接線盒用于信號切換，可結合濕度控制模塊進行鈣鈦礦、太陽能電池、OLED等的變溫測試。采用液氮制冷，溫度范圍從-190°C至600°C，溫度分辨率和控溫精度均為0.1°C，最大加熱速率為50°C/min，冷卻速率為-30°C/min。樣品臺尺寸為30×35mm，觀察窗直徑為41mm，設備尺寸為100×140×54mm，凈重0.9kg。
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GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統應用于高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統，性能優越，完全科研級別是國家科研院所和高等學府的首選設備。
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JSRT-1000型金屬線材電阻率測試儀是一款針高分辨率、高精度的臺式機型，可用于金屬線材、棒材等材料電阻率、電導率測量及絞合電線電纜電阻、米電阻的高精度測量。
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JSDT-300A型智能金屬導線、棒材電阻率儀能便攜全自動測量導線、棒材電阻率、電導率等參數高性能檢測儀器。
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HTIM-300高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。
2025年09月12日 ~ 14日 
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