英鉑科學(xué)儀器(上海)有限公司推出的MPI&英鉑瞬態(tài)熱阻測試儀,是一款專(zhuān)為半導體器件熱特性分析設計的高精度測試設備。其工作原理基于瞬態(tài)熱阻抗測試技術(shù),通過(guò)向被測器件施加恒定功率脈沖,利用雙界面法測量器件結溫隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)。設備內置高精度溫度傳感器與電壓采樣模塊,實(shí)時(shí)采集器件在加熱與冷卻過(guò)程中的電壓信號,結合K系數標定法將電壓變化轉化為溫度數據,最終計算出結殼熱阻(RthJC)及熱容參數。測試過(guò)程中,設備支持自動(dòng)標定與多通道同步測量,確保數據準確性與重復性。
慢拉伸應力腐蝕試驗機配置可選的腐蝕環(huán)境如超純水、海水、NaC、N204、NH3、甲醇及馥勒試驗機測試主機,用于模擬環(huán)墇測試材料在常溫~微高溫、常溫~低溫、常壓~微高壓介質(zhì)環(huán)境下的慢應變速率拉伸試驗(SSRT)、蠕變腐蝕、恒載荷應力腐蝕開(kāi)裂(SCC)試驗等,能對 SCC 裂紋擴展、腐蝕疲勞裂紋擴展在線(xiàn)、離線(xiàn)測量等試驗。
C 環(huán)周期浸潤應力腐蝕試驗機配置環(huán)境試驗裝帶有濕度溫度控制,配有腐蝕性溶液槽裝置,用于檢測金屬、合金材料的應力腐蝕敏感性。適合管狀、板材等的應力腐蝕敏感性測試。
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