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工作原理
Formtracer CS-3200S4采用高精度金剛石觸針（針尖半徑2μm）與閉環反饋驅動系統協同工作：測量時，觸針以0.5mN的恒定測量力（可調范圍0.1-10mN）沿被測表面垂直移動，表面微觀起伏使觸針產生位移，該位移通過高分辨率電感傳感器（分辨率0.0001μm）轉化為電信號；閉環驅動系統（PID控制算法）實時調整觸針位置，確保測量力恒定，消除因接觸力波動導致的誤差；電信號經24位ADC模數轉換后，由嵌入式處理器（ARM Cortex-A53）計算表面粗糙度參數（Ra、Rz、Rq等），同時支持輪廓曲線（波紋度、直線度）、波紋度（Wt、Wq）及功能參數（Mp、Ml）的同步分析；測量結果通過USB 3.0或Wi-Fi 6實時傳輸至PC端軟件，支持ISO 4287、ISO 13565、ASME B46.1等多國標準，數據可導出為PDF/CSV格式，兼容QC-CALC、Minitab等統計軟件。
應用范圍
覆蓋多行業高精度檢測場景：精密制造（軸承滾道表面粗糙度、齒輪齒面形貌、液壓閥體密封面粗糙度）、汽車零部件（發動機缸體珩磨紋、變速器同步器摩擦面、剎車盤表面波紋度）、半導體封裝（晶圓背面拋光粗糙度、芯片鍵合區表面形貌、引線框架鍍層粗糙度）及醫療器械（人工關節表面紋理、手術器械刃口粗糙度、植入物涂層均勻性）等，尤其適合測量超光滑表面（Ra＜0.01μm）、微結構表面（如激光加工紋路）或易變形材料（如塑料薄膜）；支持與工業機器人聯用，實現生產線在線檢測，適配節拍≤5秒/件的自動化測量需求；可選配激光干涉儀校準模塊，將測量不確定度優化至0.001μm（符合ISO 10360-7標準），滿足實驗室級計量要求。
技術參數
測量范圍：縱向80μm（可擴展至800μm），橫向200mm（可擴展至1000mm）；分辨率：0.0001μm；重復性：±0.0005μm；觸針針尖半徑：2μm（可選1μm/5μm）；測量力：0.1-10mN（可調）；驅動速度：0.05-2mm/s（可調）；工作溫度：15℃~35℃；工作濕度：20%~70%RH（無冷凝）；電源：AC100-240V 50/60Hz；重量：15kg（主機）；防護等級：IP40；兼容軟件：Form Master、PolyWorks、GageMaster。
產品特點
全系列通過日本AIST計量認證，閉環驅動系統使測量力波動＜0.01mN，數據穩定性較開環系統提升5倍；智能分析算法支持300+表面參數自動計算，涵蓋傳統粗糙度、功能參數及三維形貌參數，滿足全場景評價需求；一鍵式操作界面（7英寸觸摸屏）集成測量、分析、報告生成全流程，操作門檻降低70%；模塊化設計支持觸針、驅動單元快速更換，適配不同粗糙度范圍檢測需求；配備自清潔空氣吹掃系統與恒溫控制模塊，可有效過濾0.5μm以上顆粒物并維持20℃±0.5℃測量環境，確保數據一致性。Formtracer CS-3200S4以“納米級精度、全功能評價”的特性，成為表面形貌檢測的標桿設備。
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湖北 - 武漢
2025年07月23日 ~ 26日
