鹵素X熒光光譜儀

工作原理：

通過(guò)高壓X射線(xiàn)管激發(fā)樣品表面，使原子內層電子躍遷并釋放特征X射線(xiàn)熒光，探測器接收信號后經(jīng)多道分析器處理，結合智能算法輸出元素種類(lèi)與濃度信息。

應用范圍：

應用于電子電器、地礦勘探、金屬加工及環(huán)保監測領(lǐng)域。

產(chǎn)品技術(shù)參數：

配備Si-Pin探測器，能量分辨率160±5eV，高壓電源0-50kV可調，光管電流0-100μA。樣品腔尺寸550×416×333mm，支持固體、粉末、液體等多種形態(tài)樣品檢測，分析時(shí)間僅需30-100秒。儀器采用自動(dòng)準直/濾光片切換系統，配備高清攝像頭與ZPY-DMCP多道分析器，確保數據準確性。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 高精度與低檢出限：分析檢出限可達1ppm，滿(mǎn)足痕量元素分析需求；

2. 操作便捷：配備一鍵測試功能，支持中英文軟件界面，非專(zhuān)業(yè)人員亦可快速上手；

3. 多模式兼容：可切換RoHS檢測、鍍層測厚、合金分析等多種模式；

4. 安全環(huán)保：采用下照式設計，減少輻射泄漏風(fēng)險，工作溫度范圍15-30℃；

5. 維護簡(jiǎn)易：模塊化結構便于日常清潔與部件更換。