本發明涉及一種半導體量產測試中數據標識方法,機械手平臺將半導體成品從標記為T的待測料盤區取出放入測試機內進行測試,測試完成后機械手平臺將測試完的半導體成品放回原先取出的料盤區位置;數個待測料盤疊放高度方向設定為Z軸,每個料盤第一排測試的半導體成品方向為X軸,料盤另一方向為Y軸,層疊的料盤中任意一個半導體成品用XYZ坐標定位置,自動測試機與機械手機進行通訊,保證每個料盤中的半導體成品具有唯一的對應關系,解決了半導體成品自動測試中混料、分料、測試數據和實際測試半導體成品無法對應的問題,實現自動量產按照相應失效項進行有效分料和數據對應,提高機臺適用能力。
聲明:
“半導體量產測試中數據標識方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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