本申請公開了一種晶圓的失效檢測方法、裝置、設備及存儲介質,該方法包括:獲取目標晶圓的預定類型的WAT數據,預定類型的WAT數據是通過第一機器學習模型從至少兩種候選類型的WAT數據中確定類型的數據;調用第二機器學習模型對預定類型的WAT數據進行處理,得到目標晶圓的失效率,第二機器學習模型是根據至少一組樣本WAT數據組訓練得到的;輸出目標晶圓的失效率。本申請通過獲取目標晶圓的預定類型的WAT數據,調用第二機器學習模型對預定類型的WAT數據進行處理,得到目標晶圓的失效率,輸出目標晶圓的失效率,由于目標晶圓的失效率是由第二機器學習模型預測得到的,因此能夠提高獲取晶圓的失效率的準確度,且提高了獲取的效率。
聲明:
“晶圓的失效檢測方法、裝置、設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)