本發明公開了一種用于背面EMMI失效分析的裝置,包括一PVC電路板、一信號輸入輸出底座;所述PVC電路板的中心設置有一透明的有機玻璃片,有機玻璃片的四周設置有多個金屬引腳;PVC電路板的四個角分別設置有電路板金屬襯墊;每個金屬引腳分別通過金屬線連接一跳線接口,每個跳線接口通過金屬線分別與四個電路板金屬襯墊連接;所述信號輸入輸出底座包括座體,座體的四個角分別設置有底座金屬襯墊,底座金屬襯墊的位置與所述電路板金屬襯墊的位置相對應。本發明能夠使背面EMMI失效分析更加簡單、快速和可靠地定位到失效點,只需要花費幾個小時的時間就可以完成原先需要幾個工作日才能完成的失效缺陷的定位。本發明還公開了一種背面EMMI失效分析方法。
聲明:
“用于背面EMMI失效分析的裝置及失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)