本發明公開了一種內嵌微流道的LTCC基板測試方法和裝置,該方法包括對LTCC基板樣品進行初步檢測;對通過初步檢測的LTCC基板樣品分別進行低溫貯存測試、高溫貯存測試和高低溫循環測試,并對每次測試后的LTCC基板樣品進行檢測。該方法和裝置對內嵌微流道的LTCC基板進行了低溫貯存、高溫貯存、溫度循環等系列環境科目測試,檢測內嵌微流道LTCC基板的質量無損和結構完整性,得出其在地面模擬使用環境中是否可靠的定性結論。
聲明:
“內嵌微流道的LTCC基板測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)