合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 無損檢測技術

> GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法

GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法

903   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:00
本發明提供一種GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法,基于GPGPU芯片的設計特點,根據頂層芯片的邏輯連接關系,把GPGPU芯片的設計分為計算邏輯模塊和余下的SOC模塊,從而分成兩個Extest Mode分組:一組包含計算邏輯模塊以及與之相連的SOC模塊,另外一組包含所有的SOC模塊。在此基礎上,每組均控制所有的掃描鏈輸入信號,根據GPGPU芯片提供的所有輸入輸出管腳數量,再次分組直到觀測完所有的掃描鏈輸出信號,對運算內存的需求大大降低,同時沒有損失任何測試覆蓋率。
登錄解鎖全文
聲明:
“GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
無損檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX