本發明提供一種GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法,基于GPGPU芯片的設計特點,根據頂層芯片的邏輯連接關系,把GPGPU芯片的設計分為計算邏輯模塊和余下的SOC模塊,從而分成兩個Extest Mode分組:一組包含計算邏輯模塊以及與之相連的SOC模塊,另外一組包含所有的SOC模塊。在此基礎上,每組均控制所有的掃描鏈輸入信號,根據GPGPU芯片提供的所有輸入輸出管腳數量,再次分組直到觀測完所有的掃描鏈輸出信號,對運算內存的需求大大降低,同時沒有損失任何測試覆蓋率。
聲明:
“GPGPU芯片無損Extest Mode測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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