本發明公開了一種鐵基體上鎳鍍層的無損測厚方法,該方法是采用設置若干已知鐵基體上鎳鍍層厚度的試樣,通過將具有激勵線圈和檢測線圈的渦流傳感器對試樣的鍍有鎳鍍層一面的表面進行檢測,由激勵線圈發出激勵信號,檢測線圈獲得的渦流感應信號經處理后得到鐵基體上鎳鍍層已知厚度相對應的渦流檢測數據,從而建立一個鐵基體上鎳鍍層的厚度模型,在實測中,借助于該模型,利用同樣的方式可以獲得被測鐵基體上鎳鍍層的厚度。該方法為無損檢測,適用于對所有含鎳鍍層鐵基體的物件進行鎳鍍層的厚度測量,具有檢測設備成本低、攜帶方便、操作簡單、直觀、檢測速度快、可現場即時獲取檢測結果、測定結果準確等優點。
聲明:
“鐵基體上鎳鍍層的無損測厚方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)