本發明提供了一種用于免疫電子顯微鏡?X射線顯微成像?納米離子探針技術的復合載網及其制備方法。該復合載網包括一鉬環作為支持基底,基底之上依次為導電膠、坐標銅網、芳華膜、導電碳膜、氮化硅膜、導電碳膜。本發明所述復合載網具有良好的支持強度及導電性能,并可以提供樣品中感興趣區域的定位信息,因此可以成功實現IEM、STXM?XANES以及Nano?SIMS三種技術聯用,對70?100nm厚度電鏡切片樣品中的感興趣區域進行蛋白信息、元素化學形態信息以及同位素信息的原位分析;同時可以降低IEM制樣標記操作過程中破損的概率及程度,有效提高觀察范圍,實現STXM和Nano?SIMS分析的準確定位,并大幅度提高Nano?SIMS的檢測效率。
聲明:
“用于免疫電子顯微鏡-X射線顯微成像-納米離子探針技術的復合載網及其制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)