本發明提供了一種晶圓金屬污染的評估方法,包括步驟:對晶圓進行多次化學處理;對所述晶圓依次進行表面檢查、掃描電鏡?X射線能譜分析以及缺陷分類;通過對晶圓進行多次化學處理,與現有評估方法相比,能夠在后續對晶圓的處理中檢測到晶圓內部更深位置處的缺陷,以增加金屬污染檢測的精度,提高晶圓金屬污染的評估的準確性;并且本發明進行兩次表面檢查、兩次掃描電鏡?X射線能譜分析以及兩次缺陷分類,并將兩次的結果進行綜合分析,從而能夠更加精確得獲得金屬污染的信息,準確的對晶圓金屬污染進行評估。
聲明:
“晶圓金屬污染的評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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