本發明公開了一種測量光學參數譜的裝置,包括:光源,第一光纖,第二光纖,第三光纖,第一高速光開關,電子快門一、二、三、四、五,漫反射積分球、漫透射積分球、準直積分球;所述漫反射積分球、漫透射積分球、準直積分球各自上的測量孔分別通過光纖與所述第一高速光開關連接,所述第一高速光開關依次與光柵、電荷耦合器件、采集控制電路、控制器連接。本發明能夠通過吸收系數譜與化學值建模的方法來解決經典建模方法中吸收與散射分不開的問題,從信息源頭上直接削弱散射的影響。
聲明:
“測量光學參數譜的裝置及其消除散射影響的定量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)