本發明公開了一種原位X?射線吸收譜測量系統及測量方法;測量系統包括:電化學工作站、PC機以及QXAFS電子學設備;PC機分別與電化學工作站和QXAFS電子學設備連接,用于控制電化學測試和X?射線吸收譜測試同步進行;電化學工作站連接三電極電化學系統,其包括參比電極、對電極和工作電極,所述電極均置于含有電解質溶液的電化學反應池內;工作電極上涂覆有測試樣品;QXAFS電子學設備連接有X?射線發射裝置以及X?射線探測器;X?射線發射裝置朝向工作電極上的測試樣品發射X?射線;X?射線探測器用于接收測試樣品被激發的X?射線熒光信號。通過該系統可以實現樣品在同一條件下的多模式測試,將樣品的結構與性能一一對應。
聲明:
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