本發明公開了一種離子色譜安培檢測用銀電極的處理方法,涉及電化學檢測技術領域。本發明提供的一種離子色譜安培檢測用銀電極的處理方法,首先采用不同目數的水砂紙進行打磨,通過欠電位沉積在打磨過的銀電極上獲得超薄增敏銅層,而后使用無電沉積技術在獲得的超薄增敏銅層上進一步誘導銀結晶的形成與生長,使得處理后銀電極表面具有納米或亞微米級銀顆粒的細膩結晶結構,該方法解決了銀電極經機械拋光處理后表觀面積減小,電化學活性降低的技術問題,達到增加銀電極表面有效面積,增強銀電極電化學活性的技術效果,此外,本發明提供的超薄增敏銅層采用高濃度Cu(NO3)2溶液制備,具備穩定可清洗的優點,誘導無電沉積銀的效果顯著。
聲明:
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