本發明提供的是一種多功能鈮酸鋰集成器件的偏振性能測量方法。同時對波導芯片消光比、光纖的耦合串音、波導輸入輸出端光纖的分布式消光比進行測量;利用不同偏振角度的起偏器和檢偏器對波導進行多次測量,得到波導輸入/輸出端光纖內部的串擾數據,計算串擾數據的能量分布曲線,得到光纖的分布式消光比;測量得到帶有芯片消光比、耦合串音信息的干涉圖樣,利用干涉圖樣中左右對稱的干涉峰測量消光比和串音,判斷左右兩端測量結果的差值是否滿足要求,如果差值較大需要重新測量,直至結果符合要求為止。該方法充分利用白光干涉精度高,動態范圍大的特點,對探測到的偏振串擾數據進行測量,使測量結果準確、可靠。
聲明:
“多功能鈮酸鋰集成器件的偏振性能測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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