工作原理
QV Apex302采用遠心平行光路與8軸聯動運動平臺協同工作:高亮度LED環形光源(波長可調450-650nm)發射的光線經雙遠心物鏡(放大倍率0.7X-4.5X)轉化為平行光束,穿透或反射被測工件后,由4K分辨率CMOS傳感器(像素尺寸1.85μm)捕獲1:1無畸變圖像;8軸運動平臺(X/Y/Z軸直線導軌+U/V/W軸旋轉臺+A/C軸傾斜臺)驅動工件或鏡頭沿預設路徑移動,單軸定位精度±0.0005mm,重復定位精度±0.0003mm;AI深度學習算法(基于ResNet-50架構)實時處理圖像數據,自動識別工件類型、匹配測量模板并提取邊緣特征(如圓、弧、槽),結合亞像素邊緣定位技術(精度0.00005mm)完成尺寸計算;測量結果通過千兆以太網實時傳輸至PC端軟件,支持GD&T形位公差分析(直線度、圓度、同軸度)、CAD圖紙比對及SPC統計過程控制,數據可導出為DXF/IGES/STEP格式,兼容UG NX、CATIA等主流三維建模軟件。
應用范圍
覆蓋多行業高精度檢測場景:電子制造(SMT貼片元件尺寸、PCB微孔直徑、手機中框輪廓度)、半導體封裝(芯片鍵合線弧高、BGA焊球間距、晶圓劃片槽寬度)、汽車零部件(發動機缸體孔徑、變速器齒輪齒形、安全氣囊傳感器觸點間距)及醫療器械(人工關節表面粗糙度、手術器械刃口角度、植入物螺紋螺距)等,尤其適合測量透明/反光材料(如玻璃、陶瓷)、易變形材料(如塑料薄膜)或復雜曲面(如渦輪葉片型線);支持與工業機器人聯用,實現生產線在線檢測,適配節拍≤5秒/件的自動化測量需求;可選配激光干涉儀校準模塊,將測量不確定度優化至(0.3+L/500)μm(L為測量長度,單位mm),滿足實驗室級計量要求。
技術參數
測量范圍:300mm×200mm×150mm(可擴展至600mm×400mm×300mm);分辨率:0.0001mm;重復性:±0.00008mm;物鏡放大倍率:0.7X-4.5X(連續變倍);光源類型:環形LED(可調亮度)+同軸LED(可調角度);運動平臺速度:X/Y軸100mm/s,Z軸50mm/s;載物臺承重:10kg;工作溫度:15℃~35℃;工作濕度:20%~70%RH(無冷凝);電源:AC220V±10% 50/60Hz;重量:180kg(主機);防護等級:IP54;兼容軟件:AutoCAD、SolidWorks、PC-DMIS。
產品特點
全系列通過英國NPL計量認證,8軸聯動技術實現復雜曲面無死角掃描,深腔結構檢測覆蓋率提升至99%;AI深度學習算法自動生成測量程序,編程時間縮短90%,操作門檻降低70%;雙遠心物鏡消除測量畸變,邊緣檢測精度較傳統影像儀提升60%;模塊化設計支持物鏡、光源、運動平臺快速更換,適配不同尺寸工件檢測需求;配備自清潔空氣吹掃系統與恒溫控制模塊,可有效過濾0.5μm以上顆粒物并維持20℃±0.5℃測量環境,確保數據穩定性。QV Apex302以“納米級精度、工業級效率”的特性,成為高精度工業檢測的標桿設備。