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工作原理
PJ-A3000系列采用雙遠心平行光路設計：高亮度LED光源（波長470nm±5nm）發射的光線經準直鏡組轉化為平行光束，穿透被測工件后，由超高分辨率CMOS傳感器（1200萬像素，像素尺寸1.1μm）捕獲1:1無畸變圖像；系統內置超景深合成算法（景深擴展至5mm），通過多焦點圖像疊加技術消除微小工件表面凹凸不平導致的成像模糊；亞像素邊緣提取算法（精度0.00005mm）結合自動對焦模塊（分辨率0.1μm），可精準識別0.01mm級微細結構（如芯片引腳寬度、光纖端面直徑）；測量數據通過千兆以太網實時傳輸至PC端軟件，支持幾何元素（點、線、圓、?。M合、形位公差（直線度、圓度、同軸度）分析及CAD圖紙比對，測量結果可導出為DXF/IGES格式，兼容主流三維建模軟件。
應用范圍
覆蓋多行業微小工件檢測場景：電子制造（SMT貼片元件尺寸、PCB微孔直徑）、半導體封裝（芯片鍵合線弧高、BGA焊球間距）、精密機械（鐘表齒輪齒形、醫療器械微針直徑）及光學通信（光纖連接器端面角度、激光晶體晶向）等，尤其適合測量透明/反光材料（如玻璃、陶瓷）、易變形材料（如塑料薄膜）或復雜曲面（如手機攝像頭模組鏡片）；支持與顯微鏡聯用擴展至納米級測量，適配實驗室級高精度檢測需求；可選配自動化上下料模塊，實現微小工件批量檢測，單件測量時間＜1.5秒。
技術參數
測量范圍：30mm×20mm（可擴展至60mm×40mm）；分辨率：0.0001mm；重復性：±0.00008mm；物鏡放大倍率：50X/100X/200X（可選）；光源壽命：＞80000小時；載物臺行程：X/Y軸25mm×15mm，Z軸10mm；載物臺承重：0.5kg；工作溫度：15℃~35℃；工作濕度：20%~70%RH（無冷凝）；電源：DC24V±5% 2A；重量：18kg（主機）；防護等級：IP20；兼容軟件：AutoCAD、SolidWorks、Metrolog X4。
產品特點
全系列通過日本JIS B7431計量認證，雙遠心物鏡消除測量畸變，邊緣檢測精度較傳統投影儀提升80%；超景深合成技術實現復雜曲面無模糊成像，單次掃描可覆蓋0.5mm級高度差；AI圖像處理算法自動識別工件類型并匹配最佳測量參數，操作門檻降低60%；模塊化設計支持物鏡、光源快速更換，適配不同尺寸微小工件檢測需求；配備防振動隔離支架，可有效過濾0.5Hz以上低頻振動，確保測量數據穩定性。PJ-A3000系列以“實驗室級精度、生產線級效率”的特性，成為微小工件光學檢測的標桿設備。
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湖北 - 武漢
2025年07月23日 ~ 26日
