金屬鍍層測厚儀

工作原理：

基于X射線(xiàn)熒光光譜技術(shù)（XRF）。當X射線(xiàn)管激發(fā)待測樣品表面時(shí)，鍍層元素吸收能量后釋放特征熒光X射線(xiàn)，其強度與元素含量及鍍層厚度呈正相關(guān)。通過(guò)SDD探測器采集熒光信號，結合多變量非線(xiàn)性去卷積曲線(xiàn)擬合算法，儀器可實(shí)現多層鍍層厚度與成分的同步分析，精度達0.001μm，能量分辨率125±5eV。

應用范圍：

廣泛應用于電子制造、汽車(chē)零部件、五金加工及貴金屬檢測領(lǐng)域。

產(chǎn)品技術(shù)參數：

iEDX系列配備50kV/1mA微焦X射線(xiàn)管，支持鉬、鎢、銠靶自動(dòng)切換，焦斑尺寸可調至75μm。XYZ三維移動(dòng)平臺荷載20kg，移動(dòng)范圍覆蓋192×250mm，滿(mǎn)足大尺寸樣品檢測需求。標配6個(gè)準直器及多個(gè)濾光片，可針對不同鍍層材料優(yōu)化激發(fā)條件。分析軟件支持中、英、韓多語(yǔ)言界面，集成無(wú)標樣分析模式，測試時(shí)間10-60秒，數據可導出為PDF/Excel格式。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

多鍍層分析能力：?jiǎn)未螠y量可解析1-5層鍍層結構，兼容金屬-金屬、金屬-合金復合鍍層；

合金成分同步檢測：元素分析范圍覆蓋Al至U，可定量分析鍍層中鎳、鈀、金等貴金屬含量；

高精度三維定位：高清CCD攝像頭實(shí)時(shí)監控測試點(diǎn)位，確保重復測量誤差＜0.5%；

工業(yè)級穩定性：全封閉非真空樣品腔設計，適應-10℃至50℃環(huán)境，MTBF＞5000小時(shí)。