場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡說(shuō)明介紹

簡(jiǎn)介 JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫療、制藥、半導體到納米技術(shù)。 利用200KV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現超高分辨率圖像的觀(guān)察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現各種分析功能。 工作原理     JEM2100用于樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進(jìn)行進(jìn)一步的表征分析。對樣品組織結構進(jìn)行納米尺度的微分析。高分辨晶格條紋像、選區電子衍射、會(huì )聚束電子衍射等。對納米級的微區或晶粒的進(jìn)行成分分析，可選擇性的對樣品進(jìn)行點(diǎn)線(xiàn)面能譜掃描，獲得元素在樣品不同區域的分布情況。 技術(shù)參數

• 加速電壓30,60,120,200kV
• 球差系數1.0mm
• 點(diǎn)分辨率0.23nm
• 晶格分辨率0.14nm
• 成像模式TEM
• 放大倍數×2000~1500000

選型原則 檢測能力：形貌、結構、成分分析 應用案例 下單網(wǎng)址：www.foftest.com 設備結構     JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫療、制藥、半導體到納米技術(shù)。 利用200KV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現超高分辨率圖像的觀(guān)察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現各種分析功能。

上一個(gè)： Niton Apollo手持激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀 下一個(gè)： 雙向觀(guān)測全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀