場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡說(shuō)明介紹

簡(jiǎn)介 日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍?zhuān)瑢?shí)現超高分辨率下觀(guān)察的同時(shí)，穩定的束流亦可滿(mǎn)足長(cháng)時(shí)間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過(guò)真空系統、電子束系統和成像系統獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等的一種分析儀器。 工作原理 SU8200掃描電子顯微鏡廣泛應用于納米技術(shù),半導體及電子產(chǎn)品,碳材料,生物及制藥、納米材料、新能源。 技術(shù)參數

• 分辨率1.1nm/1kV、0.8nm/15kV
• 加速電壓0.5-30kKV
• 放大倍率20-1000000（底片輸出）
• 馬達臺5軸

選型原則 檢測能力：形貌、成分分析 應用案例 下單網(wǎng)址：www.foftest.com 設備結構     日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍?zhuān)瑢?shí)現超高分辨率下觀(guān)察的同時(shí)，穩定的束流亦可滿(mǎn)足長(cháng)時(shí)間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過(guò)真空系統、電子束系統和成像系統獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等的一種分析儀器。

上一個(gè)： 拉曼光譜儀 下一個(gè)： 雙向觀(guān)測全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀