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IIM-20P便攜式壓痕法力學性能測試儀，用于在線服役結構件的力學性能的無損檢測。
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IPT-200壓痕法力學性能測試儀是一款用于測量材料力學性能的高精度設備，通過壓頭的壓力作用，測量壓入載荷和深度曲線，并轉化為應力-應變曲線，從而確定材料的洛氏硬度、維氏硬度、布氏硬度、彈性模量、應變硬化指數、屈服強度和抗拉強度等性能指標。設備采用龍門結構機架，位移分辨率高達0.1微米，壓頭下移速度可設定，載荷量程達2000N，精度優于0.5%。支持多種壓頭類型和定制化加卸載控制方式，滿足GB/T 39635-2020標準，廣泛應用于材料性能檢測和研究。
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EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用，與常規SEM/FIB兼容，并與EDS, EBSD, WSD兼容。
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ParkNX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比，高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點，因此用戶可測量各種故障分析應用中許多信號響應，例如掃描擴散電阻顯微術(SSRM)的摻雜物濃度。ParkNX-Hivac使得真空環境中高精確度和高分辨率測量的材料科學研究遠離氧氣與其它藥劑的影響，在高真空條件下執行掃描擴散電阻顯微鏡測量可減少所需的針尖-樣本相互作用力，從而降低對樣本和針尖的損傷。
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ParkSystems的PTR系列是針對全自動工業級線上的原子力顯微鏡解決方案，適用于（不限于）長形條、磁頭萬向節組件(HGA)級滑塊以及單滑塊的沉降自動測量。憑借著亞納米級精確度、高重復精度以及高通量，PTR系列是滑塊廠商提高整體產量的理想測量工具，硬盤驅動滑塊制造業要求工具不僅可以快速且流暢地測量較為尖沉降，同時還要保證高標準的精確度。這便是ParkNX-PTR大展身手的領域。在超精確的較為尖沉降測量之外，自動化功能可較為大程度提高效率。
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LiteScope?掃描探針顯微鏡（SPM），便于集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中?；パaSPM和SEM技術的結合（CPEM）可以進行復雜的樣品分析，包括表面形貌、機械性能、電性能、化學成分、磁性等的表征。 還能與其他掃描電鏡附件相結合，如聚焦離子束（FIB）或氣體注入系統(GIS ）用于納米/微結構的制備和表面改性可以對裝配結構的快速和簡單的3D檢查。 同時，SPM和SEM測量能夠在同一地點、同一時間、同一協調系統進行。
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高精度納米拉伸壓縮系統——KLA的NanoUTMT150納米力學測試系統適用于對多種材料的微納米力學特性進行表征。具備靜態、動態拉伸等多種功能，連續動態分析模塊提供一種操作簡單且性能可靠的試驗方法。在連續拉伸和壓縮過程中的不同應變狀態下，對材料的動態力學特性進行測試分析，可快速獲得材料的儲存模量、損耗模量、損耗因子等。采用設計特的納米力學激勵傳感器，系統將簡諧力疊加在靜態力上，通過傳感器內置的電容檢測器，對振幅進行實時監控。
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FT-MTA02是一款集微納力學測試、微納機械性能測試、微納三維操縱及組裝于一身的微機器人系統。高分辨力傳感探針配合精度很高的三維移動臺，能直接且同時準確測得5nN~100mN范圍內的微力及1nm~26mm范圍內的微位移。帶有力傳感的微鉗能對于0～100um的物體進行拾取、移動、拉伸等操縱或組裝。得益于模塊化的設計，FT-MTA02能和許多儀器進行聯用，例如：探針臺、各類光學顯微鏡、工業產線集成等。非常適合于MEMS、材料、生物等領域的微納力學測試及操縱等研究。
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FT-MTA03集納米壓痕儀、微拉力儀、輪廓儀和通用微觀結構分析儀的功能于一體，其測力范圍為±200mN，力學分辨率可達0.5nN（9個數量級），可在三軸方向測量0.1nm至29mm的位移（8個數量級）。FT-MTA03配置高分辨率顯微鏡，具有95mm的較為高工作距離，可在樣品上方180°旋轉。配備3百萬像素CMOS USB相機，可選擇同軸透鏡照明、環形光和漫射背光三種可調LED照明原理。
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KLA公司全系列的力學測試產品均采用電磁驅動原理的加載力激發器，iNano臺式納米壓痕儀。對納米壓痕物理模型和優線性特性的電磁力驅動原理的深刻理解，以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設計，保證全系列納米力學產品在整個量程范圍內均能得到高精準、高分辨的控制。50mN載荷范圍，3nN加載精度，0.002nm位移精度。
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Park XE-15大樣品臺工業原子力顯微鏡是專為共享實驗室、多變量實驗和晶片失效分析設計的高性能設備。它具備100μm×100μm的XY柔韌導向掃描范圍和12μm（可選25μm）的撓性導向強力Z掃描，配備滑動連接的超亮二級管頭和多樣品夾頭。此外，選配的編碼器XY自動樣品載臺和垂直對齊的電動Z載臺及聚焦載臺，進一步提升了操作的便捷性和成像效率。6寸樣品臺的設計使其能夠容納較大尺寸的樣品，實現多樣品一次性自動成像，提高數據精確性和穩定性，滿足多樣化的研究需求。
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LiteScope?是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設計的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據客戶需求，定制并提供適當的適配器和反饋機制，很容易通過四個螺絲將LiteScope?固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器、電腦進行連接。LiteScope?通過可更換探針進行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。綜合分析包括：表面形貌表征、機械性能、電性能、磁性能。
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Nano Indenter? G200系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 該系統還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應（應變率靈敏度）。 模塊化選項可適用于各種應用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N 和自定義測試。
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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)經過30多年的發展后，從形貌測試及其它常規功能來看已經非常成熟。然而常規的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進行多性質原位測試分析的需求，尤其在化學、光學、電學、熱學、力學等領域。
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透射電鏡多尺度、多視角（明、暗場像，電子衍射， 化學成分）的實驗分析能力，基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學實驗儀器，將為研究材料內部缺陷形成、演化行為提供實驗平臺。將三維納米操縱與360度旋轉耦合的三維重構樣品臺，是實現原子級三維重構提供設備支撐。將三維重構與原位光學、力學和電學等原位加載功能結合，實現對于三維結構演化的動態解析，無疑將對深化人類對于物質結構的認識提供支撐。
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Swift Tensile Stage原位拉伸臺是一款專為現代材料研究設計的多功能設備，適用于掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等多種顯微觀測系統。它支持EBSD、樣品加熱和冷卻，能夠實現“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多種模式，適用于薄膜及細絲力學實驗。該設備結構緊湊，兼容真空和電磁環境，采用超低速準靜態加載方式，便于在成像儀器下進行連續可視化原位監測，揭示載荷作用、材料變形損傷機制與微觀結構變化間的規律。
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ezAFM是新設計的精致型原子力顯微鏡，具有設計緊湊、美觀大方、高穩定性、占用空間小等特點，而且軟件功能強大、操作簡單、用戶界面良好，而且價格實惠，性價比較為高。它是理想的實驗室用原子力顯微鏡，廣泛應用于高等教育、納米技術教育和基礎研究等領域。產品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學、磁學等拓展模式，以及液相、真空環境等。
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百賀（Bahens）多頭多工位拉伸試驗機是由上海百賀儀器科技有限公司出品的一款車用材料萬能試驗機，專為復合材料的拉伸試驗設計。該設備最多可同時對5件樣品進行拉伸試驗，特別適用于需要進行多次試驗的品質管理現場。試驗機前設有操作臺，配備帶有手部開關的氣動平面夾具，能夠顯著減輕操作人員的工作負擔，提高試驗效率。
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持單側彎曲式金屬薄板包辛格效應試驗機是一款專為研究金屬薄板在單側彎曲翻轉負荷下的力學行為而設計的設備，屬于車用材料萬能試驗機類別，主要用于抗彎試驗。該試驗機能夠反復從上下施加單側彎曲翻轉負荷，連續測量應力與變形的關系，同時配備間隙傳感器測量位移，以評估沖壓加工中的彈性后效問題。它能夠高精度地評測包辛格效應及彈性率的塑性變形依存性，為成型模擬試驗提供重要數據支持。
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臺灣拉力試驗機cometech QC-503B1，適用于大容量的測試如金屬類鋼鐵棒材、建材類混泥土、織帶..等等類別使用，適合容量在100kN內的測試，采落地型設計，可提高機臺的穩定性并且便于操作。
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美國EPSILON 3575橫向引伸計是一款專為測量軸向受力試樣的橫向或徑向應變而設計的高精度儀器，適用于寬度或直徑在0到1英寸（0到25mm）的試樣。它通常與3542軸向引伸計配合使用，可用于泊松比測量、各向異性材料（如復合材料）的橫向應變測量，以及金屬板材試驗（如r值的確定）。該引伸計采用高精度應變儀型設計，滿足ASTM B-1級和ISO 9513 0.5級精度要求，具備堅固的雙彎曲結構，適用于高頻循環試驗。其自我夾持設計和彈簧固定方式使得安裝簡便，試樣斷裂時無需取下引伸計。隨機配備泡沫襯墊箱，便于存儲和運輸。
2025年09月12日 ~ 14日 
2025年09月04日 ~ 06日 
2025年08月22日 ~ 24日 
2025年08月18日 ~ 20日 
2025年08月15日 ~ 17日 
